Residues Involved in Cx26 Hemichannels Voltage Dependent Gating

Pinto, BI; Baez-Nieto, D; Pupo, A; Martínez A; Latorre R.; González C

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Título según WOS: Residues Involved in Cx26 Hemichannels Voltage Dependent Gating
Título de la Revista: BIOPHYSICAL JOURNAL
Volumen: 108
Número: 2
Editorial: Cell Press
Fecha de publicación: 2015
Página de inicio: 442A
Página final: 442A
Idioma: English
Notas: ISI